パワーエレクトロニクス装置
信号発生器・2種類のDC電源・50or60Hz交流電源
DC&ACデジタル電圧電流計・14枚の各種半導体実験基板
実験用各種抵抗・コンデンサ・半導体等が標準装備
(2)トランジスタ等の交流増幅回路等の試験が出来ます。 サイリスタ、トライアック等の動作試験が出来ます。
(3)パワーエレクトロニクスの基本回路・応用回路の学習 が出来ます。
(4)直流電源&交流電源&計測器&信号発生器と実験に必 要な装備がパッケージされていますから、オシロスコ ープ等が有れば他に必要有りません。
(5)全ての電源はDC電源が元になっていますから、ショ ートや誤配線によるトラブルがありません。
変換方式:アナログ方式
メータ :デジタル電圧計
■NO2直流電源:0〜60V、1A
変換方式:デジタル方式
メータ :デジタル電圧計
■直流固定電源:±15V、1A
■交流電源:正弦波、約AC60V、0.5A以下
50or60Hz
■信号発生器:正弦波、三角波、矩形波
各波形とも100Hz〜100KHz
■DC電圧計:199.9V…1台
19.99V…1台
■DC電流計:2台(スイッチにて以下のレンジの内1個選択)
1.999mA
199.9mA
1.999A
■AC電圧計:199.9V(実効値表示)
■AC電流計:1.999A(実効値表示)
■電源:AC100V±10%
■寸法:約470(W)×455(D)×270(H)
サイリスタ・マルチバイブレータ
ステップアップ・ステップダウン
電源回路・ダイオード応用回路
ダイアック&UJT・UJT&ダイアック発信器
IGBT・ケンタックインターフェイス・抵抗ユニット
配線材・部品ボックス
パワーエレクトロニクス素子がオール・イン・ワン
☆ダイオード(ダイオードの特性)
整流用ダイオード、ツェナーダイオード
定電流ダイオード
☆トランジスタ(特性試験)
増幅度(hFE)の測定、
VBE-IB,VCE-IC,IB-ICの静特性試験
増幅回路&バイアスの実験
☆MOS-FET
VDS各種電圧下に於けるVDS-ID特性試験
☆サイリスタ・トライアック
各種ゲート信号時のV-I特性試験
☆UJT・ダイアック V-I特性試験
☆IGBT V-I特性試験
(2)パワーエレクトロニクスの応用の学習
☆ダイオードの応用
整流回路(半波、全波、倍電圧等の整流)
フォトカプラの使用方法
マイコン回路の使用方法
☆交流回路の電力調整回路
UJTのパルス発生回路
ダイアックのパルス発生回路
UJT&ダイアックとトライアックによる
交流電力調整回路
☆トランジスタの各種応用回路
電流制限形電源装置
マルチバイブレータ
☆MOS-FETの応用回路例
STEP UP(PWMによる電圧上昇回路)
STEP DOWN(PWMによる電圧降下回路)
☆サイリスタの応用回路
サイリスタの直流スイッチ
サイリスタ交流スイッチ
パワトロラボ
KENTAC 1011
★電子回路の実験がオール・イン・ワンだから便利です信号発生器・2種類のDC電源・50or60Hz交流電源
DC&ACデジタル電圧電流計・14枚の各種半導体実験基板
実験用各種抵抗・コンデンサ・半導体等が標準装備
特徴
(1)各種パワーデバイスの静特性試験が出来ます。(2)トランジスタ等の交流増幅回路等の試験が出来ます。 サイリスタ、トライアック等の動作試験が出来ます。
(3)パワーエレクトロニクスの基本回路・応用回路の学習 が出来ます。
(4)直流電源&交流電源&計測器&信号発生器と実験に必 要な装備がパッケージされていますから、オシロスコ ープ等が有れば他に必要有りません。
(5)全ての電源はDC電源が元になっていますから、ショ ートや誤配線によるトラブルがありません。
仕様
■NO1直流電源 :0〜18V、1A変換方式:アナログ方式
メータ :デジタル電圧計
■NO2直流電源:0〜60V、1A
変換方式:デジタル方式
メータ :デジタル電圧計
■直流固定電源:±15V、1A
■交流電源:正弦波、約AC60V、0.5A以下
50or60Hz
■信号発生器:正弦波、三角波、矩形波
各波形とも100Hz〜100KHz
■DC電圧計:199.9V…1台
19.99V…1台
■DC電流計:2台(スイッチにて以下のレンジの内1個選択)
1.999mA
199.9mA
1.999A
■AC電圧計:199.9V(実効値表示)
■AC電流計:1.999A(実効値表示)
■電源:AC100V±10%
■寸法:約470(W)×455(D)×270(H)
付属品(試験用基板)
ダイオード・トランジスタ・MOS FETサイリスタ・マルチバイブレータ
ステップアップ・ステップダウン
電源回路・ダイオード応用回路
ダイアック&UJT・UJT&ダイアック発信器
IGBT・ケンタックインターフェイス・抵抗ユニット
配線材・部品ボックス
パワーエレクトロニクス素子がオール・イン・ワン
ダイオード・トランジスタ・トライアック・UJT・サイリスタ MOS FET・IGBT等の静特性試験や応用回路の学習 |
学習の内容
(1)パワーエレクトロニクスのデバイスの静特性試験☆ダイオード(ダイオードの特性)
整流用ダイオード、ツェナーダイオード
定電流ダイオード
☆トランジスタ(特性試験)
増幅度(hFE)の測定、
VBE-IB,VCE-IC,IB-ICの静特性試験
増幅回路&バイアスの実験
☆MOS-FET
VDS各種電圧下に於けるVDS-ID特性試験
☆サイリスタ・トライアック
各種ゲート信号時のV-I特性試験
☆UJT・ダイアック V-I特性試験
☆IGBT V-I特性試験
(2)パワーエレクトロニクスの応用の学習
☆ダイオードの応用
整流回路(半波、全波、倍電圧等の整流)
フォトカプラの使用方法
マイコン回路の使用方法
☆交流回路の電力調整回路
UJTのパルス発生回路
ダイアックのパルス発生回路
UJT&ダイアックとトライアックによる
交流電力調整回路
☆トランジスタの各種応用回路
電流制限形電源装置
マルチバイブレータ
☆MOS-FETの応用回路例
STEP UP(PWMによる電圧上昇回路)
STEP DOWN(PWMによる電圧降下回路)
☆サイリスタの応用回路
サイリスタの直流スイッチ
サイリスタ交流スイッチ